王子計測機器株式会社

製品紹介(位相差測定装置)

光学軸測定装置 PAM-PR300

■特長
測定方式
回転偏光子法
平行ニコル回転法
直交ニコル回転法

測定波長
590nm
オプション:450nm,550nm, 630nm

試料寸法
□30~250mm
20mm厚以下

測定面積
33mm2(5.8mm角:受光子面)

測定項目
偏光軸方位、配向角、位相差

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